可控硅测试仪是晶闸管触发电压VGT、触发电流IGT和维持电流IH三项参数的测试设备。适用于各种反向阻断晶闸管，逆导晶闸管及双向晶闸管的参数测试。本测试仪设计先进，结构合理，操作简便。并具有数字显示，自动测试等功能。其技术指标符合GB4024-83标准的规定，是电力半导体器件生产厂和使用单位zui为理想的检测设备。
可控硅测试仪主要用于可控硅使用厂家对可控硅元件的质量检验、参数的配对、可控硅设备的维修之用。可控硅测试仪还可以广泛的应用于对多种电子元器件的高低压耐压的测试。仪器外型美观、性能稳定、测量准确、使用安全方便。
可控硅测试仪产品介绍：
１、它可以测量小至TO-92封装大至TO-3P封装的各种电流等级的塑封单、双向可控硅（晶闸管）。
２、专门设计了0-1O00uA的触发电流量程，可以直接测量MCR100-6等微安级触发电流的可控硅。
３、可以测量DIP-6、DIP-4封装的过零和非过零检测可控硅输出的光电耦合器和DIP-6封装的单向可控硅输出的光电耦合器。
４、可以测量200A以下的螺铨型单、双向可控硅和可控硅组合模块。
５、测试触发电流和触发电压时无需人工调节，可控硅插入测试座后仪器会自动的调节至触发值，并稳定的显示触发电流IGT/触发电压VGT。
６、测试可控硅耐压参数时只需一次性调节好zui高输出电压值，以后每测一个管子只要按下高压按钮即可显示该可控硅的耐压值。
